屋頂太陽(yáng)能發(fā)電站在長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行后,會(huì)隨著其太陽(yáng)能電池組件的丟失或損壞,其中的PID效應(yīng)、隱裂、熱斑是影響硅光伏組件性能的三個(gè)重要因素。今天小編介紹其中的日常的電池片隱裂的原因、如何識(shí)別和預(yù)防方法;
其中隱裂是晶體硅光伏組件相對(duì)常見(jiàn)的缺陷,是肉眼看不見(jiàn)的細(xì)微破裂,在晶體硅組件生產(chǎn)的工藝流程中許多環(huán)節(jié)都有可能造成電池片隱裂,引起隱裂產(chǎn)生的根本原因可歸納為硅片上產(chǎn)生了機(jī)械應(yīng)力或熱應(yīng)力,現(xiàn)在為了降低成本,晶體硅電池越來(lái)越薄。電池方向的發(fā)展降低了電池防止機(jī)械損壞的能力,并且更可能產(chǎn)生裂紋。
本身屋頂太陽(yáng)能發(fā)電組件存在隱裂現(xiàn)象造成的原因很多,例如,太陽(yáng)能電池片在焊接、層壓、裝框或搬運(yùn)、安裝、施工等過(guò)程中會(huì)受外力,當(dāng)參數(shù)設(shè)置不當(dāng)、設(shè)備故障或操作不當(dāng)時(shí)會(huì)造成隱裂;高溫環(huán)境中電池片在低溫下沒(méi)有經(jīng)過(guò)預(yù)熱,然后在短時(shí)間內(nèi)突然暴露于高溫后膨脹,這會(huì)導(dǎo)致焊接溫度過(guò)高等裂紋,層壓溫度等參數(shù)的設(shè)定不合理。
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